FIB与CP在分析上的区别主要在于操作原理和应用范围。

FIB的原理是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面，实现材料的剥离、沉积、注入、切割。而CP则是利用氩离子光束对材料表面进行溅射的方法，不会对样品造成机械损害，获得表面平滑的高质量样品。

在应用范围上，CP几乎可以适用于各种材料，包括难以抛光的软材料，如铜、铝、金、焊料和聚合物等；难以切割的材料，如陶瓷和玻璃等；软的、硬的和复合材料，损伤、污染和变形可以控制得非常小。而FIB的应用则主要在于材料表面的剥离、沉积、注入和切割等操作。

总的来说，CP和FIB在分析上各有特点，选择哪种方式取决于具体的实验需求和样品性质。